기록장 기록장

시끌벅적한 신촌 번화가를 조금만 벗어나 눈을 돌려보면 집이라기엔 아쉽고 방이라기엔 애매한 원룸들이 빼곡히 들어선 자취촌이 있다. 누군가에게는 학교가 있는 곳, 누군가에게는 놀러 오는 곳인 신촌이 누군가에겐 삶의 거주지가 되기도 하는 것이다. 연희동 자취촌은 그 밀집도가 마치 벌집을 연상시키곤 하는데, 그 안에서 공부하는 대학생 일벌로 살아온 지 어언 3년 차인 나에겐 몇몇의 동네 친구들이 있다. 우리가 어쩌다 이렇게 친해졌지? 물으면 같은 동네 사니까 그렇지라는 대답이 돌아오는. 만약 같은 동네에 살지 않았으면 안 친해졌을까? 물으면 솔직히 지금처럼 친하지는 않았을 듯이라는 웃음기 어린 대답이 돌아오는. 나이도 고향도 전공도 성격도 가치관도 꿈도 가지각색으로, 공통점이라고는 찾기 쉽지 않은 우리가 이토록..

빠르게 흘러가는 시간 속에서 끊임없이 흔들리는, 모든 것이 불확실하여 어느 것 하나에도 온전히 마음 주며 정착할 수 없는 20대의 내가 머무르게 된 공간 신촌. 신촌 또한 끊임없이 변화하는 곳이기에 꽃이 피고 지듯 오늘도 어떤 가게가 사라지고 또 새로운 가게가 생겨난다. 이 시기의 내가 나와 비슷하게 느껴지는 신촌에 머무르는 건 참 운명 같다 싶다가도 결국 내 발걸음은 나와는 다르게 변화의 흐름 속에서도 제 자리를 지키고 있는 낡고 나이 든 공간을 향하곤 한다. 내가 신촌에 머물기 이전에도 있었으며, 이후에도 있을 공간. 마음이 한껏 휘청이는 날에 찾아가면 잠시 머무르는 것만으로도 이상하게도 위안이 되는 나의 안식처, 바로 메시에다. 신촌 대학약국 골목의 끝까지 걸어가면 마지막 건물 2층에 메시에가 있다..

1. 연구 배경 반도체 공정은 wafer 단위로 생산이 되며, 모든 공정이 끝난 후 wafer 내 칩을 하나씩 자르면 반도체 칩이 된다. Wafer bin map(WBM)이란 wafer 내 각 칩 별 정상/불량 판정 결과를 2차원 이미지 형태로 표현한 것이다. 특정 공정 및 설비에서 이상 발생 시 해당 공정 및 설비를 거친 wafer들은 유사한 WBM 불량 패턴을 보인다. 예를 들어 ‘Random’ 불량 패턴의 경우 제조 환경의 먼지 입자 문제로 인해 주로 발생하며, ‘Edge-ring’ 불량 패턴의 경우 플라즈마 에칭 속도 불균일 문제로 인해 주로 발생한다. ‘Scratch’ 불량 패턴의 경우 CMP 공정에서 또는 이동 중 wafer handling 문제로 인해 주로 발생한다. 즉, WBM 불량 패턴을..

1. Introduction - Content-based image retrieval (CBIR)은 image content 분석을 통해 유사한 이미지를 찾는 것을 목표로 함 - CBIR에서 image representation과 계산 비용은 둘 다 중요한 역할 - large database에서 빠른 검색은 더욱 필요성이 증가하고 있음 * CBIR에서 deep CNN을 이용한 사례 - deep CNN : object detection, image classification, segmentation 등 다양한 vision task에서 좋은 성능을 보임 - 이는 deep CNN이 mid-level image representation을 학습하는 능력이 있음을 의미함 - [14] : image retrieva..

1. Introduction - 반도체 제조 공정에서 wafer map은 defect pattern을 시각화하고 잠재적인 공정 이슈를 식별하기 위해 사용됨 - 특정 공정 단계가 끝난 후 검사가 이루어지며, 감지된 die 내 불량의 위치에 기반하여 wafer map 생성됨 - wafer map 시각화의 주 목적은 비정상 불량 시그니처를 감시하고 관련된 공정의 문제를 빠르게 해결하기 위함 - 관련된 root cause와 함께 wafer map library가 만들어진다면, wafer 사이의 불량 패턴 유사성은 root cause를 나타내는 좋은 지표가 될 수 있음 * 효과적인 knowledge base를 만들기 위하여 필요한 두 가지 component 1) wafer map defect pattern cla..